BIT（build-in test）即内建测试,是一种可以让设备进行自检测的机制,也是可测试性设计的一种实现技术。内建自测试系统的目的主要是简......

该文详细介绍了边界扫描描述语言的结构和设计规则，包括ＩＥＥＥ１１４９．１ｂ，可在设计、开发带有边界扫描测试的ＡＳＩＣ中，用于其ＢＳＤＬ的设计。对每个语句形式都进行了......

论文以动力分散型电动车组的辅助系统为例,研究了CPLD及边缘扫描测试技术在机车控制电路中的应用.采用CPLD芯片作为核心器件,取代......

针对某型指控系统中的模数转换电路板上含有复杂可编程逻辑器件CPLD以及多路模数转换单元的测试与诊断问题;运用边界扫描测试技术......

对适用于高速数字网络的边界扫描标准(IEEE Std 1149.6-2003标准)进行了比较全面的介绍,内容包括:该标准的产生背景以及要解决的主......

根据研究对象BSDL文件以及Protel网表文件自身结构特点，运用flex与bison实现词法分析、语法分析及信息储存等阶段，构成一种优秀编译......

本文研究了CPLD、VHDL及边缘扫描测试技术,以在电力机车辅助系统中的应用为例,取代传统的继电器有触点控制电路,简化了电路设计、......

相较于传统的通过外部测试仪器对设备进行离线测试,机内测试(BIT)能够在设备内部进行故障检测,并将故障定位到外场或内场可更换单......

在嵌入式系统设计中,可重构技术能够利用可重用的软硬件资源,根据不同的应用需求,提供高效灵活的计算能力,越来越受到业界的重视。......

分析电路的Protel设计文档中网表文件描述的器件电气连接信息和所采用器件的BSDL文件所描述的边界扫描特性,然后生成逻辑测试向量,......

电子器件制造工艺不断提升，元器件变的越来越小，使得电路的集成度越来越高。裸露在被测电路板上的测试点越来越少，出现了越来越多的不......

在现代电子应用系统中,印刷电路板越来越复杂,多层板设计越来越普遍,大量使用各种表贴元件和BGA封装器件,芯片引脚数目和引脚密度......

随着大规模集成电路技术的不断发展,元器件变得越来越小,电路的复杂度也越来越高,传统的测试方法已经不能很好的适应这种发展趋势......